Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

Filmetrics 自動化厚度測量儀能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度，一般較短的波長 （例如， F50-UV） 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均

不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics薄膜厚度測量儀F20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果。

Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點，并在幾秒鐘內提供厚度測量。 選擇數十種預定義的極坐標，矩形或線性地圖模式中的一種，或創建自己的地圖模式，不限制測量點的數量。 典型的49點圖形大約需要45秒。